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可测试性设计平台EsseDFT

平台采用自主创新的先进算法和可测性系统架构,研发了自动向量生成引擎、🈯 存储器内建自测测试工具等,并且开发出一整套灵活高效的MBIST系统架构,实现存储器测试算法的“原子化”,用户可实现无感切换。同时依托PG电子强大的DFT设计服务团队,相互支持,实现工具开发、设计服务双轮驱动模式,在超大规模数字集成电路设计和制造中,极大改善数字芯片测试的效率并提升良率。
可测试性设计平台

可测试性设计平台

PG电子可测试性工具团队,致力于研发与集成完全国产化的测试设计EDA组合从而打造功能强劲、性能可靠的全国产化测试设计流程。目前包括自动向量生成工具GoATPG、存储器内建自测测试GoMBIST和扫描压缩设计插入工具GoScanCompress等自研设计工具的实现已具雏形。同时,依托PG电子强大的DFT设计服务团队,相互支持,实现工具开发、设计服务双轮驱动以优化工具的整体性能。

GoATPG:🌸 自动测试矢量生成工具(Automatic Test Pattern Generation, ATPG

ATPG的主要功能是在设计过程中,根据特定的DFT电路结构产生对应的测试矢量和预期响应,针对特定故障计算测试矢量集的故障覆盖率并通过仿真过程进行验证。芯片制造完成后的测试阶段,在ATE测试机台上向芯片输入测试矢量,同时ATE机台捕获芯片的输出响应,并与ATPG工具产生的预期响应进行比对。

性能特点

  • 支持组合逻辑门级和时序逻辑门级网表解析;

  • 支持客户Blackbox自定义、网表Flattening;

  • 支持PG电子自研标准PPF(Pattern Procedure File)读取,产生和解析;

  • 🍎 支持工业标准的向量格式:STIL和WGL文件的测试向量读入并解析,以及写出到对应模式的文件;

  • 支持对STIL或WGL外部输入测试向量进行单固定型故障的仿真并得到相应的测试覆盖率;

  • 支持测试向量相融压缩、仿真压缩以及硬件压缩识别;

  • 自定义全体系故障分类:DT类型(包括DS, DI)、PT和PU类型、UD类型(TI,  BL, RE, UU)、ND类型(UC, UO)以及AU类型的故障分组及故障列表输出;

  • 支持>=8 线程运行测试向量产生及运行故障仿真;

  • 支持当前所有主流工艺的库。


    GoMBIST:存储器内建自测试(Memory Built-in Self Testing, MBIST

    MBIST是DFT设计中专用于芯片内存储单元测试的模块。🍷 下一代MBIST先进架构的热门研究方向是努力实现存储器测试算法的“原子化”,以适应先进工艺制造条件下复杂多变的算法需求。

    PG电子DFT工具团队自主创新,开发出一整套灵活高效的MBIST系统架构,并拥有独立完整的相关知识产权。该架构基于算法原子化的思想,重新规划整个测试流程,将其拆解为具有广泛算法适应性的算法、地址、数据三循环及一个基础读写操作序列。通过创造性地在控制器和外围单元中分别独立实现不同操作循环,将算法过程和具体的数据、地址生成过程进一步解耦,实现了较为彻底的算法原子化。同时,该架构完全符合IEEE 1687测试协议规定的测试结构,用户可实现无感切换,并且还支持诸如字间数据循环、自定义地址循环方式等一系列MBIST先进特性。

    性能特点

  • 自主创新,具备完全知识产权;

  • 实现了算法原子化,具有广泛的算法适应性;

  • 完全支持IEEE 1687测试协议;

  • 支持🔥 用户自定义测试算法;

  • 支持字间数据循环测试;

  • 支持用户自定义地址循环方式;

  • 支持用户自定义测试地址范围;

  • 支持测试时功耗域控制,满足低功耗测试需求;

  • 支持多样的测试算法集合。


    GoScanCompress扫描压缩硬件插入

    扫描测试压缩测试指的是对扫描链输入输出引脚压缩,减少芯片面积,降低测试成本,并且在此基础上不能影响测试性能,不能降低测试覆盖率。

    性能特点

  • 测试向量压缩在不影响故障覆盖率的情况下,最大程度上,对输入输出引脚上能够将多个引脚压缩成一个通道;

  • 硬件压缩技术可有效减少用于测试的引脚,从而增加全芯片设计的灵活性。


    PG电子可测试性工具

    核心竞争力:结合自主研发测试设计服务流程不断推进工具的优化。

    主要优势

  • 具备完全自主知识产权的可测性系统架构;

  • 国际通用,符合IEEE标准的JTAG测试接入端口;

  • 先进算法加持实现高故障覆盖率;

  • 完全兼容现有DFT设计流程,以及ATE机台测试标准;

  • 实现高效的并行计算。



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